Email this article 
Application of tracing tools for analysis of microcontroller failures arising under the 14 MeV neutrons exposure
- Authors: Pilipenko A.S.1, Tikhonov M.I.1
-
Affiliations:
- Fеdеrаl State Unitary Enterprise “Russian Federal Nuclear Center – Zababakhin All-Russia Research Institute of Technical Physics”
- Issue: Vol 69, No 2 (2024)
- Pages: 199-204
- Section: ФИЗИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ В ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРАХ
- URL: https://rjsvd.com/0033-8494/article/view/650715
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0033849424020117
- EDN: https://elibrary.ru/KMELDA
- ID: 650715
Cite item
Open Access
Access granted
Abstract
The trace support tools capabilities for a microcontroller (МС) with a Cortex-M3 core are analyzed to investigation of failures arising under the 14 MeV neutrons exposure. It has been shown that in most cases, MC hang is caused by the microcontroller going into a handling an inactive exception infinite loop. The cross-section values for the single event functional interrupt and the single event latch-up are estimated.
Full Text
About the authors
A. S. Pilipenko
Fеdеrаl State Unitary Enterprise “Russian Federal Nuclear Center – Zababakhin All-Russia Research Institute of Technical Physics”
Author for correspondence.
Email: A.S.Pilipenko@vniitf.ru
Russian Federation, Snezhinsk, Chelyabinsk oblast, 456770
M. I. Tikhonov
Fеdеrаl State Unitary Enterprise “Russian Federal Nuclear Center – Zababakhin All-Russia Research Institute of Technical Physics”
Email: A.S.Pilipenko@vniitf.ru
Russian Federation, Snezhinsk, Chelyabinsk oblast, 456770
References
- Peña-Fernandez M., Lindoso A., Entrena L., Garcia-Valderas M. // IEEE Trans. 2020. V. NS-67. № 1. P. 126.
- Пилипенко А. С. // РЭ. 2022. Т. 67. № 5. С. 514.
- РД 134-0175-2009. Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Методы испытаний цифровых сверхбольших интегральных микросхем на стойкость к воздействию отдельных высокоэнергетических протонов и тяжелых заряженных частиц космического пространства на ускорителях заряженных частиц. Нормативный документ по стандартизации РКТ. М.:“ЦНИИ Машиностроения”, 2009. №19720. 29 с.
- ARM DDI 0403D “ARMv7-M Architecture Reference Manual” / Cambridge: ARM Limited, 2010. 1020 р.
- Пилипенко А. С., Тихонов М. И. // Тр. 25-й Всерос. научн.-техн. конф. “Стойкость-2022”. Лыткарино. 7–8 июня 2022. М.: НИИП, 2022. С. 52.
- Протопопов Г. А., Казанцев Д. А. // Тр. 25-й Всерос. научн.-техн. конф. “Стойкость-2022”. Лыткарино. 7–8 июня 2022. М.: НИИП, 2022. С. 125.
- Irom F., Miyahira T. F. // Radiation Effects Data Workshop. 2005. P. 36.
- Irom F., Miyahira T. F. // IEEE Trans. 2005. V. NS-52. № 6. P. 2475.
- Weulersse C., Guibbaud N., Beltrando A.-L. et al.// IEEE Trans. 2017. V. NS-64. № 8. P. 2268.
Supplementary files
