Энергетическое разрешение спектрометра с конвертером из ориентированного кристалла
- Авторы: Басков В.А.1
-
Учреждения:
- Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук
- Выпуск: № 5 (2024)
- Страницы: 37-47
- Раздел: ТЕХНИКА ЯДЕРНОГО ЭКСПЕРИМЕНТА
- URL: https://rjsvd.com/0032-8162/article/view/682612
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0032816224050042
- EDN: https://elibrary.ru/EUCUVM
- ID: 682612
Цитировать
Аннотация
Ориентированный вдоль оси монокристаллический конвертер, находящийся перед электромагнитным спектрометром, меняет отклик спектрометра, регистрирующего электроны с энергиями в десятки ГэВ. При энергии электронов 26 и 28 ГэВ в зависимости от ориентации, толщины, типа кристаллического конвертора и толщины спектрометра относительное энергетическое разрешение спектрометра улучшается на величину от 15% до 80%.
Полный текст

Об авторах
В. А. Басков
Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук
Автор, ответственный за переписку.
Email: baskov@x4u.lebedev.ru
Россия, 119991, Москва, Ленинский просп., 53
Список литературы
- Uggerhoj U.I. // Reviews of Modern Physics. 2005. V. 77. P. 1131. https://doi.org/10.1103/RevModPhys.77.1131
- Байер В.Н., Катков В.М., Страховенко В.М. Электромагнитные процессы при высокой энергии в ориентированных монокристаллах. Новосибирск: Наука, 1989.
- Ахиезер А.И., Шульга Н.Ф. // ЖЭТФ. 1983. Т. 85. С. 94.
- Басков В.А. // КСФ. 2012. № 10. С.28. https://doi.org/10.3103/S1068335612100041
- Басков В.А., Ким В.В., Лучков Б.И., Тугаенко В.Ю., Хабло В.А. // КСФ. 2013. № 5. С. 3. https://doi.org/10.3103/S1068335613050011
- Басков В.А. // КСФ. 2015. № 4. С. 3. https://doi.org/10.3103/S1068335615040016
- Басков В.А. // Письма в ЖЭТФ. 2014. Т. 99. С. 785. https://doi.org/10.7868/S0370274X14120017
- Soldani M., Bandiera L., Moulson M. et al. // Eur. Phys. J. C. 2023. V. 83. P. 101. https://doi.org/10.1140/epjc/s10052-023-11247-x
- Басков В.А., Ким В.В., Лучков Б.И., Тугаенко В.Ю., Хабло В.А. // Труды сессии-конференции ЯФ ОФН РАН “Физика фундаментальных взаимодействий”, ИТЭФ, Москва, 2011. С. 16. http://matras.itep.ru/npd2kl/Malyi_za/24_november/ ba/Pt
- Зверев В.Г., Лучков Б.И., Тугаенко В.Ю. Космофизика. Москва: Энергоиздат, 1987. С. 71.
- Басков В.А. // КСФ. 2016. № 5. С. 3. https://doi.org/10.3103/S1068335616050018
- Басков В.А. // КСФ. 2014. №3. С.32. https://doi.org/10.3103/S1068335614030051
- Байер В.Н., Басков В.А., Ганенко В.Б. и др. Препринт ФИАН №204. Москва, 1988.
- Baskov V.A., Khablo V.A., Kim V.V., Sergienko V.I. // Nucl. Instrum. Methods. Phys. Res. A. 1990. V. 297. P. 329. https://doi.org/10.1016/0168-9002(90)91315-3
- Басков В.А., Белоусов А.С., Ким В.В., Малиновский Е.И., Усик А.П., Хабло В.А // ПТЭ. 2011. Т. 5. С. 66.
- Словинский Б. // ЭЧАЯ. 1994. Т. 25. № 2. С. 417.
- Горячев В. Н., Денисов С. П. // Ядерная физика и инжиниринг. 2021. Т. 12. № 4. С. 229. https://doi.org/10.56304/S2079562920060275
- Басков В.А., Говорков Б.Б., Ким В.В., Лучков Б.И., Сергиенко В.И., Тугаенко В.Ю., Хабло В.А. // КСФ. 1992. № 9/10. С. 41.
- Tikhomirov V.V., Haurylavets V. V., Lobko A. S., Mechinsky V. A. // Engineering of Scintillation Materials and Radiation Technologies (ISMART 2016). 2017. V. 200. P. 259. https://doi.org/10.1007/978-3-319-68465-9_16
- Elsener K., Møller S.P., Petersen J.B.B., Uggerhøj E. // Cosmic Gamma Rays, Neutrinos, and Related Astrophysics. NATO ASI Series. V. 270. P 457. https://doi.org/10.1007/978-94-009-0921-2_31
- Басков В.А., Ким В.В., Лучков Б.И., Тугаенко В.Ю., Хабло В.А. // КСФ. 2012. № 8. С. 16. https://doi.org/10.3103/S1068335612080039
- Басков В.А., Ким В.В., Лучков Б.И., Тугаенко В.Ю., Хабло В.А. // КСФ. 2013. № 4. С. 35. https://doi.org/10.3103/S1068335613040052
- Басков В.А., Ким В.В., Лучков Б.И., Тугаенко В.Ю., Хабло В.А. // КСФ. 2011. № 6. С. 8. https://doi.org/10.3103/S1068335611060029
Дополнительные файлы
Доп. файлы
Действие
1.
JATS XML
2.
Рис. 1. Схема спектрометров направленного действия: а – регистрация e-, e+, γ-квантов на основе ориентированных вдоль оси непрозрачных и прозрачных кристаллов, б – схема применения спектрометров направленного действия в экспериментальной установке.
Скачать (150KB)
3.
Рис. 2. Схема определения ширины ориентационной зависимости ΔQ ΔE энерговыделения электромагнитного ливня в черенковском счетчике толщиной 1X0, выходящего из кристалла вольфрама толщиной tW = 1 мм: Е = 28 ГэВ, TW = 77K, ось <111>.
Скачать (33KB)
4.
Рис. 3. Схема экспериментальной установки “Каскад”: А1–А3 и С1–С6 – сцинтилляционные счетчики, ПК1–ПК3 – пучковые пропорциональные камеры, Р – радиатор, ММ – магнит системы мечения фотонов, Г – гониометр, М – кристаллический конвертор, Т – сцинтилляционный счетчик для регистрации заряженных частиц ливня, СЧЛС – составной черенковский ливневый спектрометр, ЧС – черенковский спектрометр; МСППС – многоканальный свинцово-сцинтилляционный спектрометр полного поглощения.
Скачать (33KB)
5.
Рис. 4. а – Схема ЧСПП и расположения ЧСПП и ЧС на пучке: 1 – радиатор; 2 – аллюминированный майлар, 3 – черная светонепроницаемая бумага, 4 – черная изоляционная лента, 5 – ФЭУ-85, 6 – делитель, 7 – крепления радиатора, ФЭУ и делителей, 8 – корпус. б – Схема ЧС: 1 – радиатор, 2 – ФЭУ-49, 3 – делитель, 4 – корпус.
Скачать (133KB)
6.
Рис. 5. Каскадные кривые развития электромагнитного ливня в СЧЛС от электронов с энергией Ee = 26 ГэВ в зависимости от толщины разориентированных (а) и ориентированных вдоль оси <111> (б) кристаллов вольфрама перед СЧЛС, К – калибровка (кристалл перед СЧЛС отсутствует).
Скачать (121KB)
7.
Рис. 6. Зависимость среднеквадратичного разрешения σ спектрометра СЧЛС+ЧС от его толщины tСЧЛС+ЧС и толщины разориентированного (а) и ориентированного вдоль оси <111> вольфрамового кристаллического конвертора (б); E = 26 ГэВ, TW =293K, К – калибровка (tW = 0), толщины кристаллов показаны слева от кривых.
Скачать (104KB)
8.
Рис. 7. Зависимость относительного энергетического разрешения суммарного спектрометра от его толщины tСС при разориентированном (а) и ориентированном вдоль оси <111> вольфрамовом кристаллическом конверторе (б), E = 26 ГэВ, Tw =293K, К – калибровка (tW = 0).
Скачать (97KB)
9.
Рис. 8. Зависимость относительного энергетического разрешения суммарного спектрометра от толщины вольфрамового кристаллического конвертора tW; толщина спектрометра СЧЛС в радиационных длинах показана справа от кривых; E = 26 ГэВ, ○ – калибровка, ● – tw = 293K; ▲, Δ – tw =77K: а – конвертор разориентирован, б – конвертор ориентирован вдоль оси <111>, в – суммарный спектрометр (tСЧЛС + ЧС = 25X0; ▲ и Δ – конвертор разориентирован и ориентирован вдоль оси <111> соответственно).
Скачать (149KB)
10.
Рис. 9. Соотношение оптимальных толщин кристаллического вольфрамового конвертора перед суммарным спектрометром (tW opt) и толщин суммарного спектрометра (tCC opt), при которых относительное энергетическое разрешение суммарного спектрометра наилучшее.
Скачать (30KB)
11.
Рис. 10. Ориентационные зависимости относительного энергетического разрешения δ первого счетчика СЧЛС (tСЧЛС = 1X0) от толщина кристаллического конвертора: а – вольфрамовый конвертор (<111>); б – кремневый конвертор (<110>); ●, ▲, ○ – E = 26 ГэВ; Δ, ■ – E = 28 ГэВ; Δ – T = 77K; ●, ▲, ○ – T = 293K; толщины конверторов показаны над зависимостями.
Скачать (45KB)
12.
Рис. 11. Зависимость ширины ориентационной зависимости относительного энергетического разрешения ΔΘδ первого счетчика СЧЛС от толщины tкрист кристалов вольфрама (●, ○, <111>) и кремния (▲, <110>): ● – E = 26 ГэВ, TW = 293K; ○, ▲ – E = 28ЭГэВ, TW = 77K, TSi = 293K.
Скачать (15KB)
13.
Рис. 12. Соотношение между относительным энергетическим разрешением δ первого счетчика СЧЛС и шириной ориентационной зависимости ∆Θδ кристаллов вольфрама (●, ○) и кремния (▲): ● – E = 26 ГэВ, TW = 293K; ○, ▲ – E = 28 ГэВ, TW = 77K, TSi = 293K; ●, ○ – <111>, ▲– <110>.
Скачать (27KB)
