Автор туралы ақпарат
Bocharov, G. S.
| Шығарылым | Бөлім | Атауы | Файл |
| № 4 (2025) | Articles | Analysis of angle resolved x-ray photoelectron emission spectra of highly oriented pyrolytic graphite |
Пайдаланушы
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
X-ray diffraction
X-ray photoelectron spectroscopy
atomic force microscopy
channeling
electron microscopy
ion implantation
irradiation
magnetron sputtering
microstructure
nanoparticles
neutron reflectometry
optical properties
phase composition
scanning electron microscopy
silicon
structure
surface
surface morphology
synchrotron radiation
thin films
zinc oxide
Ағымдағы шығарылым
№ 3 (2025)
×
Пайдаланушы
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
X-ray diffraction
X-ray photoelectron spectroscopy
atomic force microscopy
channeling
electron microscopy
ion implantation
irradiation
magnetron sputtering
microstructure
nanoparticles
neutron reflectometry
optical properties
phase composition
scanning electron microscopy
silicon
structure
surface
surface morphology
synchrotron radiation
thin films
zinc oxide
Ағымдағы шығарылым