<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE root>
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" article-type="research-article" dtd-version="1.2" xml:lang="en"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">Journal of Analytical Chemistry</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="en">Journal of Analytical Chemistry</journal-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Журнал аналитической химии</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn publication-format="print">0044-4502</issn><issn publication-format="electronic">3034-512X</issn><publisher><publisher-name xml:lang="en">The Russian Academy of Sciences</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="publisher-id">697724</article-id><article-id pub-id-type="doi">10.7868/S3034512X25120055</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en"><subject>ORIGINAL ARTICLES</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru"><subject>ОРИГИНАЛЬНЫЕ СТАТЬИ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="article-type"><subject>Research Article</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title xml:lang="en">IMPROVEMENT OF METROLOGICAL CHARACTERISTICS OF ARC ATOMIC EMISSION DETERMINATION OF REFRACTORY IMPURITIES IN REFRACTORY MATRICES IN THE PRESENCE OF FLUORINE-CONTAINING ADDITIVES</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>УЛУЧШЕНИЕ МЕТРОЛОГИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ДУГОВОГО АТОМНО-ЭМИССИОННОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТРУДНОЛЕТУЧИХ ПРИМЕСЕЙ В ТУГОПЛАВКИХ МАТРИЦАХ В ПРИСУТСТВИИ ФТОРСОДЕРЖАЩИХ ДОБАВОК</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="en"><surname>Zolotareva</surname><given-names>N. I</given-names></name><name xml:lang="ru"><surname>Золотарева</surname><given-names>Н. И</given-names></name></name-alternatives><email>zol@iptm.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="en"><surname>Grazhulene</surname><given-names>S. S</given-names></name><name xml:lang="ru"><surname>Гражулене</surname><given-names>С. С</given-names></name></name-alternatives><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff1"><aff><institution xml:lang="en">Institute of Problems of Microelectronics Technology and High Purity Materials of the Russian Academy of Sciences</institution></aff><aff><institution xml:lang="ru">Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук</institution></aff></aff-alternatives><pub-date date-type="pub" iso-8601-date="2025-12-15" publication-format="electronic"><day>15</day><month>12</month><year>2025</year></pub-date><volume>80</volume><issue>12</issue><issue-title xml:lang="en">VOL 80, NO12 (2025)</issue-title><issue-title xml:lang="ru">ТОМ 80, №12 (2025)</issue-title><fpage>1331</fpage><lpage>1339</lpage><history><date date-type="received" iso-8601-date="2025-12-04"><day>04</day><month>12</month><year>2025</year></date></history><permissions><copyright-statement xml:lang="en">Copyright ©; 2025, Russian Academy of Sciences</copyright-statement><copyright-statement xml:lang="ru">Copyright ©; 2025, Российская академия наук</copyright-statement><copyright-year>2025</copyright-year><copyright-holder xml:lang="en">Russian Academy of Sciences</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="ru">Российская академия наук</copyright-holder><ali:free_to_read xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" start_date="2026-12-15"/></permissions><self-uri xlink:href="https://rjsvd.com/0044-4502/article/view/697724">https://rjsvd.com/0044-4502/article/view/697724</self-uri><abstract xml:lang="en"><p>This work is devoted to an important area of arc atomic emission analysis, namely, the study of the influence of chemically active additives on the metrological characteristics of determining refractory elements in refractory matrices. A number of scientific results published by the authors of the article are critically reviewed in comparison with literature data on the mechanism of action of these additives and their practical use. Over 25 years of experience and the results of such studies, the generalization of the identified patterns and advantages of fluorinating agents AlF<sub>3</sub>, AgF, BaF<sub>2</sub>, SrF<sub>2</sub>, and ZnF<sub>2</sub> allow concluding their universality in the analysis of refractory matrices and the feasibility of practical use in terms of improving the selectivity, sensitivity, and accuracy of arc atomic emission analysis determinations. It has been established that zinc fluoride is the most effective fluorinating agent for analyzing all studied matrices. Its use allowed reducing the limits of detection for refractory elements by 2–3 orders of magnitude compared to determinations without additives, as well as improving the convergence and accuracy of the results.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="ru"><p>Работа посвящена важной области дугового атомно-эмиссионного анализа, а именно: изучению влияния химически активных добавок на метрологические характеристики определения труднолетучих элементов в тугоплавких матрицах. Критически рассмотрен ряд научных результатов, опубликованных авторами статьи, в сравнении с литературными данными по изучению механизма действия этих добавок и их практическому использованию. Более чем 25-летний опыт и итог таких исследований, обобщение найденных закономерностей и преимуществ фторирующих агентов AlF<sub>3</sub>, AgF, BaF<sub>2</sub>, SrF<sub>2</sub> и ZnF<sub>2</sub> позволили сделать заключение об их универсальности в анализе тугоплавких матриц и целесообразности практического использования с точки зрения улучшения селективности, чувствительности и точности определений дугового атомно-эмиссионного анализа. Установлено, что наиболее эффективным фторирующим агентом при анализе всех исследованных матриц является фторид цинка. Его использование позволило снизить пределы определения труднолетучих элементов на 2–3 порядка по сравнению с результатами определения без добавки, а также улучшить сходимость и правильность результатов определений.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="en"><kwd>arc atomic emission analysis</kwd><kwd>refractory matrices</kwd><kwd>chemically active fluorine-containing additives</kwd><kwd>refractory elements</kwd><kwd>limits of detection</kwd><kwd>convergence of results</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>дуговой атомно-эмиссионный анализ</kwd><kwd>тугоплавкие матрицы</kwd><kwd>химически активные фторсодержащие добавки</kwd><kwd>труднолетучие элементы</kwd><kwd>пределы определения</kwd><kwd>сходимость результатов</kwd></kwd-group><funding-group><funding-statement xml:lang="ru">Работа выполнена в рамках Госзадания № 075-00295-25-00</funding-statement></funding-group></article-meta></front><body></body><back><ref-list><ref id="B1"><label>1.</label><mixed-citation>Русанов А.К. Основы количественного анализа руд и минералов. М.: Недра, 1978. С. 158.</mixed-citation></ref><ref id="B2"><label>2.</label><mixed-citation>Фришберг А.А. Повышение чувствительности определения при помощи химически активных носителей // Журн. прикл. спектроскопии. 1965. Т. 3. № 2. С. 187.</mixed-citation></ref><ref id="B3"><label>3.</label><mixed-citation>Терек Т., Мика Й., Гезуш Э. Эмиссионный спектральный анализ. М.: Мир, 1982. Кн. 1. С. 233.</mixed-citation></ref><ref id="B4"><label>4.</label><mixed-citation>Семенова А.А., Кузяков Ю.Я., Семененко К.А., Гаврилова Н.К. Влияние добавок хлоридов щелочноземельных элементов на спектральное определение титана циркония и гафния // Журн. аналит. химии.1979. Т. 34. № 11. С. 2145.</mixed-citation></ref><ref id="B5"><label>5.</label><mixed-citation>Каракин А.В., Штепа Е.В. Влияние катиона добавки на интенсивность спектральных линий микроэлементов в атомно-эмиссионном спектральном анализе // Журн. прикл. спектроскопии. 1991. Т. 54. № 1. С. 18.</mixed-citation></ref><ref id="B6"><label>6.</label><mixed-citation>Юделевич И.Г., Буянова Л.М., Шелиакова И.Р. Химико-спектральный анализ веществ высокой чистоты. Новосибирск: Наука, 1980. 223 с.</mixed-citation></ref><ref id="B7"><label>7.</label><mixed-citation>Швангирадзе Р.Р., Высокова И.Л., Мозговая Т.А., Петрова О.А. Спектральное определение микропримесей в порошковых материалах // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 1972. Т. 38. № 4. С. 384.</mixed-citation></ref><ref id="B8"><label>8.</label><mixed-citation>Лейкин С.В., Орлова В.А. Определение титана, циркония, молибдена и ванадия в высокочистом оксиде алюминия α-модификации // Высокочистые вещества. 1990. № 3. С. 189.</mixed-citation></ref><ref id="B9"><label>9.</label><mixed-citation>Ильченко О.П., Золотоанидза Э.С. Атомно-эмиссионное спектрографическое определение микропримесей в монокристаллических подложках для ВТСП-пленок // Высокочистые вещества. 1992. № 4. С. 132.</mixed-citation></ref><ref id="B10"><label>10.</label><mixed-citation>Домбровская М.А., Лисненко Д.Г., Шафар О.Ю. Определение гарниз в циркониевых материалах // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2019. Т. 85. № 1. Ч. II. С. 56.</mixed-citation></ref><ref id="B11"><label>11.</label><mixed-citation>Домбровская М.А., Лисненко Д.Г., Пильмуллина Ч.Г., Кубрина Е.Д. Совершенствование атомно-эмиссионной методики анализа графитового коллектора // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2017. Т. 83. № 1. Ч. II. С. 51.</mixed-citation></ref><ref id="B12"><label>12.</label><mixed-citation>Лисенко Д.Г., Домбровская М.А., Кубрина Е.Д. Синтез и испытания стандартного образца состава графитового коллектора микропримесей // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2017. Т. 83. № 1. Ч. II. С. 45.</mixed-citation></ref><ref id="B13"><label>13.</label><mixed-citation>Верянин У.Д., Маширев В.П. Термодинамические свойства неорганических веществ. М.: Атомиздат, 1965. С. 54.</mixed-citation></ref><ref id="B14"><label>14.</label><mixed-citation>ГОСТ 23463-79 Графит порошковый особой чистоты. Технические условия. М.: Издательство стандартов. 1991. 9 с.</mixed-citation></ref><ref id="B15"><label>15.</label><mixed-citation>Виргиева Ю.С. Примеси в реакторном графите и его работоспособность // Атомная энергия. 1998. Т. 84. № 1. С. 7.</mixed-citation></ref><ref id="B16"><label>16.</label><mixed-citation>Баджикова И.И., Пименов В.Г. Определение примесей в оптической керамике и ее прекурсорах методами атомной спектрометрии // Вестн. Нижегор. ун-та им. Н.И. Лобачевского. 2013. № 4 (1). С. 98.</mixed-citation></ref><ref id="B17"><label>17.</label><mixed-citation>Решетников Ф.Г. Разработка, производство и эксплуатация тепловыделяющих элементов энергетических реакторов. М.: Энергоиздат, 1995. Кн. 1. С. 126.</mixed-citation></ref><ref id="B18"><label>18.</label><mixed-citation>Бурин Ж.П., Золотарева Н.И., Хвостиков В.А., Гражданск С.С. Фотоэлектрическая регистрация эмиссионных спектров на основе приборов с зарядовой связью // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2008. Т. 74. № 6. С. 26.</mixed-citation></ref><ref id="B19"><label>19.</label><mixed-citation>Золотарева Н.И., Гражданск С.С. Использование химически активных добавок для повышения чувствительности определения редкоземельных элементов и тория дуговым атомно-эмиссионным методом. // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2011. Т. 77. № 9. С. 11.</mixed-citation></ref><ref id="B20"><label>20.</label><mixed-citation>Золотарева Н.И., Гражданск С.С. Влияние химически активных добавок на характер испарения труднодетучих примесей при их дуговом атомно-эмиссионном определении в алюминии и его оксиде // Журн. аналит. химии. 2024. Т. 79. № 3. С. 237.</mixed-citation></ref><ref id="B21"><label>21.</label><mixed-citation>Золотарева Н.И., Гражданск С.С. Поведение и фракционирование труднодетучих примесей в дуге постоянного тока при анализе циркония атомно-эмиссионным методом // Журн. аналит. химии. 2023. Т. 78. № 2. С. 144.</mixed-citation></ref><ref id="B22"><label>22.</label><mixed-citation>Золотарева Н.И., Гражданск С.С. Исследование механизма испарения примесных элементов в дуговом атомно-эмиссионном анализе графитового порошка особой чистоты в присутствии фотосодержащих добавок // Журн. аналит. химии. 2025. Т. 80. № 1. С. 62.</mixed-citation></ref><ref id="B23"><label>23.</label><mixed-citation>Зимберитен К.И. Спектральный анализ чистых веществ. Л.: Химия, 1971. С. 97.</mixed-citation></ref><ref id="B24"><label>24.</label><mixed-citation>Чаньшева Т.А., Шеппакова И.Р. Унифицированный метод атомно-эмиссионного спектрального анализ объектов разной природы // Аналитика и контроль. 2002. Т. 6. № 3. С. 298.</mixed-citation></ref><ref id="B25"><label>25.</label><mixed-citation>Экспериалова Л.П., Беликов К.Н., Химченко С.В., Бланк Т.А. Еще раз о пределах обнаружения и определения // Журн. аналит. химии. 2010. Т. 65. № 3. С. 229.</mixed-citation></ref></ref-list></back></article>
