Изготовление оптической керамики Yb: YAG методом шликерного литья под давлением с последующим виброударным воздействием

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Доступ платный или только для подписчиков

Аннотация

Изготовлены образцы керамики Yb: YAG с толщиной от 7 мм, компактирование которых было выполнено с помощью шликерного литья под давлением. Образцы получены методом твердофазового синтеза с использованием коммерчески доступных порошков оксидов Al2O3, Y2O3 и Yb2O3. Исследованы спектры оптического пропускания. Показано, что прессование с виброударным воздействием в качестве способа дополнительного уплотнения является более предпочтительным, чем простое одноосное прессование, так как позволяет получить образец керамики с более высоким пропусканием.

Об авторах

С. М. Козлова

Фрязинский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН

Email: offmrx@mail.ru
пл. Введенского, 1, Фрязино, Московская область, 141190 Российская Федерация

К. В. Лопухин

Фрязинский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН

Email: offmrx@mail.ru
пл. Введенского, 1, Фрязино, Московская область, 141190 Российская Федерация

В. В. Балашов

Фрязинский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН

Email: offmrx@mail.ru
пл. Введенского, 1, Фрязино, Московская область, 141190 Российская Федерация

Т. В. Листков

Фрязинский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН

Email: offmrx@mail.ru
пл. Введенского, 1, Фрязино, Московская область, 141190 Российская Федерация

А. А. Ефимов

Фрязинский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН

Автор, ответственный за переписку.
Email: offmrx@mail.ru
пл. Введенского, 1, Фрязино, Московская область, 141190 Российская Федерация

Список литературы

  1. Giesen A., Hügel H., Voss A. et al. // Appl. Phys. B. 1994. V. 58. № 5. P. 365.
  2. doi.org/10.1007/BF01081875
  3. Rutherford T.S., Tulloch W.M., Gustafson E.K. et al. // IEEE J. Quantum Electron. 2000. V. 36. № 2. P. 205.
  4. doi.org/10.1109/3.823467
  5. Yamamoto R.M., Parker J.M., Allen K.L. et al. // Proc. SPIE. 2007. V. 6552. P. 655205.
  6. doi.org/10.1117/12.720965
  7. Li J., Zhou J., Pan Y. et al. // J. Amer. Ceram. Soc. 2012. V. 95. № 3. P. 1029.
  8. doi.org/10.1111/j.1551-2916.2011.04915.x
  9. Zhang W., Pan Y., Zhou J. et al. // J. Amer. Ceram. Soc. 2009. V. 92. № 10. P. 2434.
  10. doi.org/10.1111/j.1551-2916.2009.03220.x
  11. Zhang W.X., Zhou J., Liu W.B. et al. // J. Alloys Compound. 2010. V. 506. № 2. P. 745.
  12. doi.org/10.1016/j.jallcom.2010.07.059
  13. Caslavsky J.L., Viechnicki D.J. // J. Mater. Sci. 1980. V. 15. № 7. P. 1709.
  14. doi.org/10.1007/BF00550589
  15. Ikesue A., Aung Y.L., Taira T. et al.//Annual Rev. Mater. Res. 2006. V. 36. № 1. P. 397.
  16. doi.org/10.1146/annurev.matsci.36.011205.152926
  17. Innerhofer E., Südmeyer T., Brunner F. et al. // Opt. Lett. 2003. V. 28. № 5. P. 367.
  18. doi.org/10.1364/OL.28.000367
  19. Latham W.P., Lobad A., Newell T.C. et al. // AIP Conf. Proc. 2010. V. 1278. № 1. P. 758.
  20. Boulesteix R., Goldstein A., Perrière C. et al. // J. Europ. Ceram. Soc. 2021. V. 41. № 3. P. 2085.
  21. doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2020.11.003
  22. Xu Y., Mao X., Fan J. et al. // Ceram. Int. 2017. V. 43. № 12. P. 8839.
  23. doi.org/10.1016/j.ceramint.2017.04.017
  24. Sanghera J., Kim W., Villalobos G. et al. // Materials. 2012. V. 5. № 2. P. 258.
  25. doi.org/10.3390/ma5020258

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Российская академия наук, 2025